美国国家仪器有限公司（NationalInstruments，简称NI）推出NIPCI-5124，这是倍受欢迎的基于PXI的12位、200MS/s数字化仪的基于PCI接口的产品。NIPXI-5124和NIPCI-5124这两款数字化仪使用了最新技术，在两个150MHz带宽的输入信道中进行同步采样，可达到高达75dBc的SFDR（spurious-freedynamicrange）。这两款设备均基于NI同步和存储核心（SynchronizationandMemoryCore，SMC）构架，具备每通道512MB板载内存、快速数据传输和紧密的同步功能。设计和测试领域的工程师们可以在几十皮秒内同步基于SMC的模块化仪器，用于高通道和混合信号应用。 NI5124数字化仪在高采样率情况下具有极高的分辨率，因此它可以成为消费电子、军工、航空、半导体和医疗设备等一系列测量应用的理想之选。这些设备还具备以下附加特性，例如：由软件选择的50Ω和1MΩ输入阻抗、用于重复信号的4GS/s随机隔行扫描采样（randominterleavedsampling，RIS），以及包含视频触发的5个触发模式。 测试和设计领域的工程师们可以在产品开发的整个流程（从研发设计到验证和生产）中，用NI的数字化仪快速开发测量系统，并使用NI的LabVIEW、TestStand或SignalExpress等软件所支持的快速开发技术。此外，具有32、256或512MB内存选择的NI频谱测量工具包（NISpectralMeasurementsToolkit）提供了优良的频域测量功能，例如在NILabVIEW和LabWindows/CVI软件中，可以进行功率频谱、峰值功率和频率、内置功率、相邻通道功率，以及3D光谱图等的测量。